Процесс измерения связан с взаимодействием прибора с объектом и регистрацией им отклика последнего на внешнее поле. Разные приборы регистрирует различную величину отклика, что связано с их «врожденной» способностью процесса измерения.

В работе [1] нами была получена формула для функции Ф отклика произвольной системы на внешнее воздействие. Разлагая экспоненту в знаменателе Ф в ряд и пренебрегая малыми членами, нетрудно получить, полагая Ф = Э – эффективности информационно-измерительной системы (ИИС):

Э = εln W, (1)

где e – параметр модели; W – характеризует объем ресурсов ИИС, который пропорционален объему памяти ИИС, чувствительности приборов и ряду других параметров. В начальный момент образования системы – W = ε, так что

Эв = εln ε. (2)

Полученное выражение и есть врожденная способность ИИС.

Уравнения (1) и (2) показывают, что эффективность ИИС тем больше, чем больше их врожденная способность.

Уравнение (2) позволяет экспериментально определять врожденную способность ИИС. Если в качестве эффективности ИИС взять отношение выходной сигнал/входной сигнал, то можно определить Э1, Э2, …по заданным W1, W2, … и, тем самым, врожденную способность ИИС. Таким образом, можно проводить анализ ИИС с точки их технической состоятельности и экономической перспективности.