В настоящее время flash-носители информации, благодаря своей компактности и сравнительно высокой плотности записи, используются практически повсеместно в сегменте фото- и видеокамер, диктофонов, мобильных устройств и т.п. Широкое применение flash-носителей приводит к значительному увеличению количества случаев потери важной информации вследствие различных повреждений, так как у накопителей такого типа относительно невысокая надежность работы, особенно при интенсивной эксплуатации; это приводит к утрате данных, в ряде случаев носящих конфиденциальный характер.
Одной из причин выхода из строя flash-накопителей, являются логические повреждения, которые поддаются устранению. В этом случае повреждений накопитель чаще всего определяется в системе как физическое устройство идентификатором производителя и типом устройства, соответствующим установленному в нем контроллеру. При обнаружении ошибки в служебном сегменте памяти контроллер прекращает обращение к нему. Это связано с необходимостью снижения деструктивного влияния на микросхемы памяти и остановкой распространения повреждения данных. В большинстве случаев данные физически не повреждаются и остаются записанными в микросхемах памяти, но использование штатного интерфейса для доступа к этим данным становится невозможным.
При попытке восстановления работоспособности накопителя с помощью стандартных специализированных утилит ранее записанные данные обычно теряются (операции, выполняемые такими утилитами, заключаются в обнулении всех микросхем памяти и восстановлении исходного формата поврежденных областей данных). Сохранение несистемных (пользовательских) данных не является приоритетным, так как такие операции значительно усложняют программу-утилиту и сам процесс восстановления информации.
Восстановление всех пользовательских данных при логических повреждениях микросхем flash-накопителей возможно только с помощью специализированных аппаратно-программных комплексов, полностью эмулирующих работу контроллера микросхем памяти [1].
Библиографическая ссылка
Прохоров А.В. ЛОГИЧЕСКИЕ НЕИСПРАВНОСТИ FLASH-НОСИТЕЛЕЙ // Международный журнал прикладных и фундаментальных исследований. – 2015. – № 4-2. – С. 305-304;URL: https://applied-research.ru/ru/article/view?id=6650 (дата обращения: 20.04.2024).